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新方案可预测太空集成微电路故障
发布日期:2017年12月06日    信息来源:《科技日报》 字体:【】【】【

  俄国立核能研究大学“莫斯科理工学院”微电子和纳米电子部门的工作人员提出了一种新的技术方案,可以预测太空集成微电路的故障。


  现代气象卫星、通信卫星和地球观测卫星在轨道至少应运行10年—15年,失常原因通常是机载电子设备发生故障。现在,集成电路元件尺寸缩小到纳米级别,这导致多种故障发生,比如,一个宇宙微粒可以同时在几个逻辑元件或存储单元引起错误,从而造成故障或不可逆的损坏。


  为解决这一问题,研究团队发明了一种新方法,可以处理地面实验的结果,并计算出故障发生的频率,在技术和程序方面能对最新设计的现代纳米集成电路进行预测,从而有效避免其在太空中的多种故障。

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